Haben Sie sich jemals gefragt, wie mikroelektronische Bauteile physischer Beanspruchung standhalten? Die Norm MIL-STD-883 Methode 2004.7, allgemein bekannt als Anschlussdraht-/Biegebelastungstest (Lead/Bend Stress Test), bewertet die Haltbarkeit der Anschlüsse mikroelektronischer Bauelemente und ihrer Verbindungen zum Gehäuse. Dieser T-Biege-Test hilft festzustellen, ob diese entscheidenden Verbindungen mechanischer Beanspruchung bei Handhabung, Installation und Betrieb standhalten können. Der Hauptzweck dieses…
Bitte beachten Sie, dass wir Ihre Privatsphäre respektieren und Ihre Daten streng vertraulich behandeln.
